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  • GT-BIR-66A半導體高溫老化柜
    GT-BIR-66A半導體高溫老化柜

    半導體高溫老化柜,也稱(chēng)為ORT高溫老化柜,是一種專(zhuān)門(mén)用于半導體器件可靠性測試的設備。它通過(guò)模擬高溫、高濕、高壓等惡劣環(huán)境,對半導體器件進(jìn)行長(cháng)時(shí)間的老化處理,以評估其在實(shí)際使用環(huán)境中的性能表現和可靠性

    更新日期:2024-06-20型號:GT-BIR-66A
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